概要
DACrux TEST提供使半导体Test工艺最优化的所有YMS（Yield Management System）Solution。 通过DACrux TEST可以对良率数据系统进行管理、分析。并且对于Test结果通过实时分析及Reporting并对异常良率可以采取及时的措施。DACrux TEST提供遵守SEMI standard的IE422 SPEC标准化的数据可以与其他数据进行相关联分析，此提供日后良率监控的平台。并且在与MES（Manufacturing Execution System）连接使用时会看到更明显的效果。
 
 
特征

∙ Operation
- 管理Operator及Engineer的明示的业务指示
- 防止操作员Error
- 对于主观业务防止异常发生
- 减少定型和反复的手动操作
- Processing、Engineer的效率及生产率最大化
- 随着数据收集自动化提供信息的正确性
 
∙ Analysis
- 以提供影像分析(Visual Analysis)确认发生的正确现象
- 系统的收集Test & Defect数据
- 良率管理及分析
- 管理使良率降低的主要因素
- 以良率低下的原因分析良率Modeling
 
∙ Reporting
- 良率的实时监控
- 对于Yield Ripple及时警报
- 对于Yield Ripple迅速Process反馈
- 提供生产量及良率的直接调整能力
- 提供可以决策指标的分析报告