概要
在制造企业的生产运营环境下，出现未遵守计划的生产日程、未能维持有效的费用结构、出现生产效率低下及客户满意度低下等现象时，都是需要企业级良率管理接近方法的问题点。因这些问题导致无法及时访问正确的生产品质数据，结果导致对产品良率问题的应答速度缓慢。为了应对此类问题，
很多企业将重点转向YMS（Yield Management System），提高数据访问的能力。YMS是对整个制造工序持续进行监控，将数据自动保存到中央
集中化的存储空间进行分析，分析的数据可在生产线的任何一个地方都可以访问。使用YMS系统能够与MES系统连接将生产信息视觉化，能够对制造
状态掌握更广，并且可以及时掌握技术性问题。YMS成为半导体及FPD制造企业的必要条件。QMS（Quality Management System）是能够对所有制造产业无法视觉化的Measure数据，以统计的形式管理生产及附加活动的指标。这也是所有制造产业为提高生产性所必需的条件。Miracom为有效地对应逐渐复杂的生产工序、生产品种的技术复杂度增大的情形，提供适用于高新技术产业领域的YMS和整体制造产业群构建QMS系统的解决方案。
 
 
解决方案
MIRACOM的品质管理解决方案，不仅采集大量的数据（MES、ERP等Legacy系统提供的数据），也采集测量数据、产品测试结果，通过高级统计
方法（Regression、Multivariate Analysis等）及Machine Learning方法（Decision Tree、Neural Network）或者Pattern Recognition
技法进行分析，提供有用的信息（不良原因导出、预测良率、探索最佳条件等）。

- 在半导体及FPD产业的高新技术企业最重要的管理指标可以硕士良率，高新技术企业为了提高良品率，投入庞大的费用及努力。
- 需要系统的管理管理生产活动过程中发生的各种Engineering Data，所有数据需要实时收集及分析。
- 为了使新开发的产品的良品率能够提高一定水准以上，对于Probe Test、PCM Test、Defect Inspection、Defect Review Image、Inline Measurement Data进行- - 各种综合分析，迅速掌握工序状态，短时间内提高良率。
- 高新技术产业的品质分析是通过灵活运用Visual Map分析及统计分析方法，通过影响良率的因素之间的相关分析，寻找数据的异常值和问题点。
- 需要对品质问题点提出提示改善方案，进一步通过改善的追踪及验证减少相同问题的发生。
- 已得到验证的分析方法要对分析步骤实现自动化，提前预防大量品质事故的发生。
- 将为提高品质的有效的分析步骤及知识保存并共享，提高不良原因分析工程师的分析能力。
- 根据不同的工序所产生的多种形态的数据，整理成与产品相关的序列形态的数据，可容易掌握其相关性。